Digital circuit logic design

第1章 绪论

1．1．1 数字信号

1．1．2 数制及其转换

1．1．3 二-十进制代码(bcd代码)

1．1．4 算术运算与逻辑运算

1．1．5 数字电路

1．1．6 本课程的任务与性质

习题

第2章 逻辑函数及其简化

2．1 逻辑代数

2．1．1 基本逻辑

2．1．2 基本逻辑运算

2．1．3 真值表与逻辑函数

2．1．4 逻辑函数相等

2．1．5 三个规则

2．1．6 常用公式

2．1．7 逻辑函数的标准形式

2．2 逻辑函数的简化

2．2．1 公式化简法(代数法)

2．2．2 图解法(卡诺图法)

. 2．2．3 逻辑函数的系统简化法

习题

第3章 集成逻辑门

3．1 晶体管的开关特性

3．1．1 晶体二极管开关特性

3．1．2 晶体三极管开关特性

3．2 ttl集成逻辑门

3．2．1 晶体管—晶体管逻辑门电路(ttl)

3．2．2 ttl与非门的主要外部特性

3．2．3 ttl或非门、异或门、三态输出门等

3．2．4 其他系列ttl门电路

3．3 发射极耦合逻辑(ecl)门与集成注入逻辑(i2l)电路

3．3．1 发射极耦合逻辑(ecl)门

3．3．2 izl逻辑门

3．4 mos逻辑门

3．4．1 mos晶体管

3．4．2 mos反相器和门电路

3．5 cmos电路

3．5．1 cmos反相器工作原理

3．5．2 cmos反相器的主要特性

3．5．3 cmos传输门

3．5．4 cmos逻辑门电路

3．5．5 cmos电路的锁定效应及正确使用方法

习题

第4章 组合逻辑电路

4．1 组合逻辑电路分析

4．1．1 全加器

4．1．2 编码器

4．1．3 译码器

4．1．4 数值比较器

4．1．5 数据选择器

4．1．6 奇偶产生／校验电路

4．2 组合逻辑电路设计

4．2．1 采用小规模集成器件的组合逻辑电路设计

4．2．2 采用中规模集成器件实现组合逻辑函数

4．3 组合逻辑电路的冒险现象

4．3．1 静态逻辑冒险

4．3．2 如何判断是否存在逻辑冒险

4．3．3 如何避免逻辑冒险

习题

第5章 集成触发器

5．1 基本触发器

5．1．1 基本触发器电路组成和工作原理

5．1．2 基本触发器功能的描述

5．2 钟控触发器

5．2．1 钟控r—s触发器

5．2．2 钟控d触发器

5．2．3 钟控j—k触发器

5．2．4 钟控t触发器

5．2．5 电位触发方式的工作特性

5．3 主从触发器

5．3．1 主从触发器基本原理

5．3．2 主从j—k触发器主触发器的一次翻转现象

5．3．3 主从j—k触发器集成单元

5．3．4 集成主从j—k触发器的脉冲工作特性

5．4 边沿触发器

5．4．1 维持—阻塞触发器

5．4．2 下降沿触发的边沿触发器

5．4．3 cmos传输门构成的边沿触发器

习题

第6章 时序逻辑电路

6．1 时序逻辑电路概述

6．2 时序逻辑电路分析

6．2．1 时序逻辑电路的分析步骤

6．2．2 寄存器、移位寄存器

6．2．3 同步计数器

6．2．4 异步计数器

6．3 时序逻辑电路设计

6．3．1 同步时序逻辑电路设计的一般步骤

6．3．2 采用小规模集成器件设计同步计数器

6．3．3 采用小规模集成器件设计异步计数器

6．3．4 采用中规模集成器件实现任意模值计数；(分频)器

6．4 序列信号发生器

6．4．1 设计给定序列信号的产生电路

6．4．2 根据序列循环长度m的要求设计发生器电路

习题

第7章 半导体存储器

7．1 概述

7．1．1 半导体存储器的特点与应用

7．1．2 半导体存储器的分类

7．1．3 半导体存储器的主要技术指标

7．2 顺序存取存储器(sam)

7．2．1 动态cmos反相器

7．2．2 动态cmos移存单元

7．2．3 动态移存器和顺序存取存储器(sam)

7．3 随机存取存储器(ram)

7．3．1 ram结构

7．3．2 ram存储单元

7．3. 3 ram集成片hm6264简介

7．3．4 ram存储容量的扩展

7．4 只读存储器(rom)

7．4．1 固定rom

7．4．2 可编程rom(prom)

7．4．3 可擦除可编程rom(eprom)和电可擦可编程rom （eeprom）

7．4．4 用rom实现组合逻辑函数

7．4．5 eprom集成片简介

习题

第8章 可编程逻辑器件及其应用

8．1 可编程阵列逻辑(pal)器件

8．1．1 现场可编程逻辑阵列(fpla)器件

8．1．2 pal器件的基本结构

8．1．3 pal器件的输出和反馈结构

8．1．4 pal器件编号与典型pal器件介绍

8．1．5 pal器件的应用

8．2 通用逻辑阵列(gal)器件

8. 2．1 gal器件的基本类型

8．2．2 pal型gal器件

8．2．3 pla型gal器件

8．2．4 gal器件的应用

8．3 复杂可编程逻辑器件(cpld)

8．3．1 概述
8．3．2 cpld的基本结构

8．3．3 cpld的分区阵列结构

8．3．4 典型器件及应用举例

8．4 现场可编程门阵列(fpga)器件

8．4．1 概述

8．4．2 fpga器件基本结构

8．4．3 可配置逻辑模块(clb)

8．4．4 可编程i／o模块(10b)

8．4．5 可编程内部互连资源(1cr)

8．4．6 fpga的应用举例

8．5 可编程逻辑器件的开发

8．5．1 低密度pld的开发

8．5. 2 高密度pld的开发

8．5．3 fpga器件编程数据的装载

8．5．4 isp—pld的编程

习题

*第9章 逻辑电路的测试和可测性设计

9．1 故障诊断与测试集

9．1．1 故障模型

9．1．2 故障测试集

9．1．3 测试码的生成

9．2 组合电路的测试生成

9．2．1 单路径敏化法

9．2．2 布尔差分法

9．2．3 多故障的测试码生成

9．3 时序电路测试码生成

9．3．1 同步时序电路的迭代展开

9．3．2 同步时序电路状态表检测序列

9．4 可测性设计

9．4．1 组合电路的可测性电路结构

9．4．2 扫描方式电路设计

9．4．3 内建自测试设计

习题

第10章 脉冲单元电路

10．1 脉冲信号与脉冲电路

10．1．1 脉冲信号

10．1．2 脉冲电路

10．2 集成门构成的脉冲单元电路

10．2．1 施密特触发器

10．2．2 单稳态触发器

10．2．3 多谐振荡器

10．3 555定时器及其应用

10．3．1 555定时器的电路结构

10．3．2 用555定时器构成施密特触发器

10．3．3 用555定时器构成单稳态触发器

10．3．4 用555定时器构成多谐振荡器

习题

第11章 模数转换器和数模转换器

11．1 转换系统

11．1．1 数字控制系统

11．1．2 数据传输系统

11．1．3 自动测试与测量设备

11．1．4 多媒体计算机系统

11．2 数模转换器(dac)

11．2．1 数模转换原理和一般组成

11．2．2 权电阻网络dac

11．2．3 r—2r倒t形电阻网络dac

11．2．4 单值电流型网络dac

11．2．5 dac的转换精度与转换速度

11．3 模数转换器(adc)

11．3．1 模数转换基本原理

11．3．2 并联比较型adc

11．3．3 逐次逼近型adc

11．3．4 双积分型adc

11．4 集成adc

11．4．1 双积分型集成adc

11．4．2 逐次逼近型集成adc

11．4．3 adc的转换精度和转换速度

习题

附录一 半导体集成电路型号命名方法

附录二 集成电路主要性能参数

附录三 二进制逻辑单元图形符号说明

主要参考资料

汉英名词术语对照