简介
目录
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第三章 光栅光谱仪
§3.1 引言
§3.2 光栅的分光原理
§3.3 狭缝光谱仪的理论仪器函数
§3.4 狭缝宽度对仪器函数的影响
§3.5 光学零件缺陷对仪器函数的影响
§3.6 光多通道分析仪
第四章 法布里-珀罗干涉仪
§4.1 仪器的分光原理
§4.2 理论仪器函数和分辨本领
序言
§4.3 焦面上光阑孔径对仪器函数的影响
§4.4 光学零件缺陷的影响
§4.5 实际仪器函数和分辨本领
§4.6 法布里-珀罗干涉仪的亮度
§4.7 与狭缝光谱仪比较
§4.8 提高细度的方法
§4.9 光谱的扫描
§4.10 鬼象和散光干涉圈
附录 高精度平板平面度的测定
第五章 调幅干涉分光计
第一章 光谱仪的基本概念和数学基础
§5.1 引言
§5.2 分光原理
§5.3 理论仪器函数和分辨本领
§5.4 光阑孔径的影响
§5.5 调幅干涉分光计的亮度及比较
§5.6 不同色散器调幅干涉分光计的性质
§5.7 仪器噪音
§5.8 信号的产生、性质及其分析
§5.9 光学及机械缺陷的影响和仪器的调整
第六章 傅里叶变换光谱学——干涉调频光谱仪
§1.1 一般光谱仪的术语、名称及其意义
§6.1 概述
§6.2 分光原理
§6.3 理论仪器函数和分辨本领
§6.4 变迹——数学滤波
§6.5 光阑孔径的确定
§6.6 各种误差的影响及校正
§6.7 干涉图转换成光谱图
§6.8 相位误差及其校正
§6.9 分光板与探测器
§6.10 傅里叶变换光谱仪的应用
§1.2 傅里叶变换光谱仪的数学基础
§6.11 傅里叶变换光谱仪的优点
第七章 傅里叶变换光谱仪产品简介
§7.1 FS-72v和FS-820
§7.2 FTS系列
§7.3 IFS系列
§7.4 MIR系列
§7.5 IS3及MarkⅡ
§7.6 尼高力产品
§7.7 Model 1700和Model 1800
§7.8 IF-3和IF-6
第二章 光的干涉和光学干涉仪
§7.9 FIR-30
§7.10 JIR系列
§2.1 光波的数学描述和性质
§2.2 光的干涉方法
§2.3 光学干涉仪
K]
第三章 光栅光谱仪
§3.1 引言
§3.2 光栅的分光原理
§3.3 狭缝光谱仪的理论仪器函数
§3.4 狭缝宽度对仪器函数的影响
§3.5 光学零件缺陷对仪器函数的影响
§3.6 光多通道分析仪
第四章 法布里-珀罗干涉仪
§4.1 仪器的分光原理
§4.2 理论仪器函数和分辨本领
序言
§4.3 焦面上光阑孔径对仪器函数的影响
§4.4 光学零件缺陷的影响
§4.5 实际仪器函数和分辨本领
§4.6 法布里-珀罗干涉仪的亮度
§4.7 与狭缝光谱仪比较
§4.8 提高细度的方法
§4.9 光谱的扫描
§4.10 鬼象和散光干涉圈
附录 高精度平板平面度的测定
第五章 调幅干涉分光计
第一章 光谱仪的基本概念和数学基础
§5.1 引言
§5.2 分光原理
§5.3 理论仪器函数和分辨本领
§5.4 光阑孔径的影响
§5.5 调幅干涉分光计的亮度及比较
§5.6 不同色散器调幅干涉分光计的性质
§5.7 仪器噪音
§5.8 信号的产生、性质及其分析
§5.9 光学及机械缺陷的影响和仪器的调整
第六章 傅里叶变换光谱学——干涉调频光谱仪
§1.1 一般光谱仪的术语、名称及其意义
§6.1 概述
§6.2 分光原理
§6.3 理论仪器函数和分辨本领
§6.4 变迹——数学滤波
§6.5 光阑孔径的确定
§6.6 各种误差的影响及校正
§6.7 干涉图转换成光谱图
§6.8 相位误差及其校正
§6.9 分光板与探测器
§6.10 傅里叶变换光谱仪的应用
§1.2 傅里叶变换光谱仪的数学基础
§6.11 傅里叶变换光谱仪的优点
第七章 傅里叶变换光谱仪产品简介
§7.1 FS-72v和FS-820
§7.2 FTS系列
§7.3 IFS系列
§7.4 MIR系列
§7.5 IS3及MarkⅡ
§7.6 尼高力产品
§7.7 Model 1700和Model 1800
§7.8 IF-3和IF-6
第二章 光的干涉和光学干涉仪
§7.9 FIR-30
§7.10 JIR系列
§2.1 光波的数学描述和性质
§2.2 光的干涉方法
§2.3 光学干涉仪
K]
干涉光谱仪
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