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简介
本书介绍了近年来最新的数字集成电路芯片设计、验证方法和技术发展趋势。本书共分十章，其内容涵盖基本理论介绍、芯片设计实例以及试验和习题。本书第一章概述了数字集成电路历史发展状况；第二章通过一个网络路游芯片的设计阐述了数字集成电路构架特点、设计流程、工艺特性，以及从系统工程的角度上对芯片进行的优化设计方法；第三章是对Verilog VHDL语言的概述，通过多种单元电路的实例来解释用软件描述硬件的抽象概念；第四章是基本组合逻辑，基本时序逻辑电路，状态机以及UART单元设计的介绍，同时也介绍了芯片设计中工业界常用的RTL写作规范及指导思想；第五章重点描述典型的低功耗逻辑电路以及逻辑电路中降低功耗的方式方法；第六章是芯片的设计与验证，引入芯片验证平台的建立，测试矢量的构造以及介绍了逻辑功能的形式验证方法；第七章是关于芯片综合方法。从结构上介绍了近年EDA工具中采用的综合算法和基本理念，并详细描述了芯片设计中采用的综合流程；第八章是关于芯片可测性设计，重点介绍了CORE SCAN中ATPG矢量测试以及BOUNDRY SCAN， BIST等手段对芯片加工生产中可能出现的缺陷所采用的检测方法；第九章介绍了FPGA以及FPGA对流片前逻辑功能的验证。第十章介绍了最近发展起来的芯片仿真软硬件验证技术Emulator。
目录
目录
丛书序
前言
第1章 数字集成电路的历史与现状
1.1 数字集成电路的历史与现状
1.2 现代数字设计方法的发展
1.3 数字集成电路前端设计语言及后端设计软件(EDA)
1.4 数字IC的几种设计模式
1.5 数字IC设计面临的挑战
1.6 习题
参考文献
第2章 数字IC设计方法学
2.1 数字IC设计流程
2.2 层次化设计和模块划分
2.3 芯片封装和散热
2.4 CMOS工艺选择
2.5 习题
参考文献
第3章 Verilog/VHDL硬件描述语言
3.1 HDL的历史和优势
3.2 Verilog数据类型与设计结构
3.3 基本建模方法
3.4 路径延时模型
3.5 逻辑行为建模
3.6 任务与函数
3.7 习题
参考文献
第4章 HDL逻辑设计
4.1 基本组合电路设计
4.2 基本时序电路设计
4.3 设计同步状态机
4.4 SRAM的设计
4.5 复杂数字逻辑设计
4.6 设计示例:UART
4.7 可综合的Verilog RTL设计
4.8 代码书写风格
4.9 习题
参考文献
第5章 低功耗数字电路
5.1 数字电路介绍
5.2 低功耗设计技术
5.3 绝热逻辑电路
5.4 学习示例
5.5 习题
参考文献
第6章 逻辑电路的设计验证
6.1 验证概述
6.2 验证平台编码风格
6.3 验证平台模块设计
6.4 验证平台结构设计
6.5 断言
6.6 验证质量评估
6.7 习题
参考文献
第7章 逻辑综合
7.1 逻辑综合概述
7.2 逻辑综合中的基本概念
7.3 逻辑综合的步骤
7.4 综合脚本实例
7.5 现代先进综合技术
7.6 习题
参考文献
第8章 可测试性设计
8.1 DFT挑战和设计方法
8.2 JTAG边界扫描
8.3 逻辑内建自测试
8.4 存储器内建自测试
8.5 自动测试模式生成
8.6 存储器电路内建自测试
8.7 习题
参考文献
第9章 FPGA设计与芯片验证
9.1 FPGA的基础知识
9.2 FPGA的基本结构
9.3 FPGA的设计流程
9.4 FPGA的开发工具
9.5 FPGA的同步设计原则
9.6 FPGA的设计优化技巧
9.7 FPGA设计实践
参考文献
第10章 基于硬件仿真系统的IC功能验证
10.1 硬件仿真器的起源
10.2 硬件仿真器和硬件仿真系统的定义
10.3 硬件仿真系统的实现原理
10.4 硬件仿真器系统,验证平台和运行方式
10.5 硬件仿真系统的编译
10.6 硬件仿真系统的运行控制和查错手段
10.7 应用实例分析
10.8 总结
10.9 习题
参考文献
索引
丛书序
前言
第1章 数字集成电路的历史与现状
1.1 数字集成电路的历史与现状
1.2 现代数字设计方法的发展
1.3 数字集成电路前端设计语言及后端设计软件(EDA)
1.4 数字IC的几种设计模式
1.5 数字IC设计面临的挑战
1.6 习题
参考文献
第2章 数字IC设计方法学
2.1 数字IC设计流程
2.2 层次化设计和模块划分
2.3 芯片封装和散热
2.4 CMOS工艺选择
2.5 习题
参考文献
第3章 Verilog/VHDL硬件描述语言
3.1 HDL的历史和优势
3.2 Verilog数据类型与设计结构
3.3 基本建模方法
3.4 路径延时模型
3.5 逻辑行为建模
3.6 任务与函数
3.7 习题
参考文献
第4章 HDL逻辑设计
4.1 基本组合电路设计
4.2 基本时序电路设计
4.3 设计同步状态机
4.4 SRAM的设计
4.5 复杂数字逻辑设计
4.6 设计示例:UART
4.7 可综合的Verilog RTL设计
4.8 代码书写风格
4.9 习题
参考文献
第5章 低功耗数字电路
5.1 数字电路介绍
5.2 低功耗设计技术
5.3 绝热逻辑电路
5.4 学习示例
5.5 习题
参考文献
第6章 逻辑电路的设计验证
6.1 验证概述
6.2 验证平台编码风格
6.3 验证平台模块设计
6.4 验证平台结构设计
6.5 断言
6.6 验证质量评估
6.7 习题
参考文献
第7章 逻辑综合
7.1 逻辑综合概述
7.2 逻辑综合中的基本概念
7.3 逻辑综合的步骤
7.4 综合脚本实例
7.5 现代先进综合技术
7.6 习题
参考文献
第8章 可测试性设计
8.1 DFT挑战和设计方法
8.2 JTAG边界扫描
8.3 逻辑内建自测试
8.4 存储器内建自测试
8.5 自动测试模式生成
8.6 存储器电路内建自测试
8.7 习题
参考文献
第9章 FPGA设计与芯片验证
9.1 FPGA的基础知识
9.2 FPGA的基本结构
9.3 FPGA的设计流程
9.4 FPGA的开发工具
9.5 FPGA的同步设计原则
9.6 FPGA的设计优化技巧
9.7 FPGA设计实践
参考文献
第10章 基于硬件仿真系统的IC功能验证
10.1 硬件仿真器的起源
10.2 硬件仿真器和硬件仿真系统的定义
10.3 硬件仿真系统的实现原理
10.4 硬件仿真器系统,验证平台和运行方式
10.5 硬件仿真系统的编译
10.6 硬件仿真系统的运行控制和查错手段
10.7 应用实例分析
10.8 总结
10.9 习题
参考文献
索引
国务院学位委员会集成电路工程硕士教育协作组 全国集成电路人才培养基地专家指导委员会组编
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